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          In-Situ原位測試

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              1. Zeta系列光學輪廓儀
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              +
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              2. 微米(顯微)級光斑尺度厚度測量
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              +
              1. 表面等離子共振顯微鏡
              2. 表面等離子共振儀
              +
            1. +
            2. +
            +
            1. +
              1. 納米拉伸儀
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              1. 原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
              +
              1. 原位拉伸臺
              2. In-SEM納米操作機
              3. In-SEM納米壓痕
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            2. +
            +
            1. +
              1. 小型研發臺
              2. 手動探針臺
              3. 半自動探針臺
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              3. 頻譜分析儀
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              8. 頻率計數器
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              1. 探針及配件
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              1. In-SEM原子力顯微鏡
              +
              1. In-SEM納米壓痕
              2. In-SEM 納米操作機
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              1. 原位芯片及Holder
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              1. 等離子清洗機
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              1. 被動隔震臺
              2. 主動隔震臺
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              1. 樣品切割
              2. 鑲嵌
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              +
              1. 工業/測量顯微鏡
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              5. 立體/體視顯微鏡
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            +
              1. AFM探針
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              4. SEM耗材
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              +
              1. 光柵模板
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              3. 孔狀模板
              4. 納米壓印膠
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            1. +
            +
          • 陰極熒光成像光譜探測系統

            陰極熒光系統(Cathodoluminescence, CL)通常配置在掃描電鏡或透射電鏡中,能夠實...

          • 電鏡原位偏壓加熱系統

            基于STXM應用的原位SEM樣品臺及MEMS芯片技術,實現在真空環境中的原位高溫、原位電學的解決方案

          • 原位納米壓痕儀

            NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試;也可以直接在大氣環境下測試樣品的硬度...

          • LF-2000綜合原位納米操作機

            TNI LF-2000是目前市面上基于SEM電鏡下使用的自動化程度高的納米操作系統,也是一種能夠在S...

          • 高溫原位納米壓痕儀

            InSEM HT產品可以在真空環境下對小體積材料進行各種高溫原位力學測試(室溫~800℃),可以實時...

          • 原位MEMS芯片和同步輻射Holder

            Norcada提供科學領域的mems器件的定制設計和制造,包括硅和氮化物窗口、電極集成、加熱芯片、電...

          • 原位AFM in SEM

            LiteScope?集成各種SEM、FIB或GIS,CPEM 結合SPM和SEM互補技術,輕松實現樣...

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